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元件参数资料
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参数目录22505
> SN74ABTH182646APM IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
型号:
SN74ABTH182646APM
RoHS:
无铅 / 符合
制造商:
Texas Instruments
描述:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
详细参数
数值
产品分类
集成电路 (IC) >> 逻辑 - 专用逻辑
SN74ABTH182646APM PDF
标准包装
160
系列
74ABTH
逻辑类型
扫描测试设备,带收发器和寄存器
电源电压
4.5 V ~ 5.5 V
位数
18
工作温度
-40°C ~ 85°C
安装类型
表面贴装
封装/外壳
64-LQFP
供应商设备封装
64-LQFP(10x10)
包装
托盘
产品目录页面
926 (CN2011-ZH PDF)
其它名称
296-4133
查看SN74ABTH182646APM代理商
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